| Измеряемые параметры | Индуктивность (L), тангенса угла потерь (D), добротности (Q), сопротивление (R, DCR), ёмкость (C), испытание p-n переходов |
| Погрешность | 1 |
| Электрическое сопротивление (от) | 60 Ом |
| Электрическое сопротивление (до) | 20 МОм |
| Разрешение (R) | 0,01 Ом |
| Электрическая емкость (от) | 600 пФ |
| Электрическая емкость (до) | 6 мФ |
| Разрешение (C) | 0,1 пФ |
| Индуктивность (от) | 600 мкГн |
| Индуктивность (до) | 200 Гн |
| Разрешение (L) | 0,1 мкГн |
| Частота тест сигнала | 100 Гц | 10 кГц |
| Диапазон частот | Фиксированный |
| Особенности | Современный дизайн в форме пинцета для измерения параметров SMD-компонентов (tweezers). Тест сигнал, 4 фиксированных значений частоты, 100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 кГц. Возможность измерения электролитических конденсаторов. |
| Уровень тест сигнала | 100 мВ | 500 мВ |
| Особенности | Современный дизайн в форме пинцета для измерения параметров SMD-компонентов (tweezers). Тест сигнал, 4 фиксированных значений частоты, 100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 кГц. Возможность измерения электролитических конденсаторов. |
| Погрешность | 1 |
| Разрешение (C) | 0,1 пФ |
| Разрешение (L) | 0,1 мкГн |
| Разрешение (R) | 0,01 Ом |
| Диапазон частот | Фиксированный |
| Индуктивность (до) | 200 Гн |
| Индуктивность (от) | 600 мкГн |
| Уровень тест сигнала | 100 мВ – 500 мВ |
| Частота тест сигнала | 100 Гц – 10 кГц |
| Измеряемые параметры | Индуктивность (L), тангенса угла потерь (D), добротности (Q), сопротивление (R, DCR), ёмкость (C), испытание p-n переходов |
| Электрическая емкость (до) | 6 мФ |
| Электрическая емкость (от) | 600 пФ |
| Электрическое сопротивление (до) | 20 МОм |
| Электрическое сопротивление (от) | 60 Ом |