| Измеряемые параметры | Индуктивность (L), ёмкость (C), сопротивление (R, DCR), тангенс угла потерь (D), добротность (Q), фазовый сдвиг (θ) |
| Погрешность | 0,2 |
| Электрическое сопротивление (от) | 20 Ом |
| Электрическое сопротивление (до) | 200 МОм |
| Разрешение (R) | 1 мОм |
| Электрическая емкость (от) | 200 пФ |
| Электрическая емкость (до) | 200 мкФ |
| Разрешение (C) | 0,01 пФ |
| Индуктивность (от) | 20 мкГн |
| Индуктивность (до) | 2 Гн |
| Разрешение (L) | 1 нГн |
| Частота тест сигнала | 100 Гц | 10 кГц |
| Диапазон частот | Фиксированный |
| Особенности | Тест сигнал, 4 фиксированных значений частоты, 100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 кГц. Современный дизайн в форме пинцета для измерения параметров SMD-компонентов (tweezers). Режим относительных Δ-измерений. Возможность измерения электролитических конденсаторов. ЖК-дисплей, функция удержания показаний на дисплее (Hold). |
| Интерфейс | USB |
| Уровень тест сигнала | 600 мВскз | 1 В |
| Интерфейс | USB |
| Особенности | Тест сигнал, 4 фиксированных значений частоты, 100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 кГц. Современный дизайн в форме пинцета для измерения параметров SMD-компонентов (tweezers). Режим относительных Δ-измерений. Возможность измерения электролитических конденсаторов. ЖК-дисплей, функция удержания показаний на дисплее (Hold). |
| Погрешность | 0,2 |
| Разрешение (C) | 0,01 пФ |
| Разрешение (L) | 1 нГн |
| Разрешение (R) | 1 мОм |
| Диапазон частот | Фиксированный |
| Индуктивность (до) | 2 Гн |
| Индуктивность (от) | 20 мкГн |
| Уровень тест сигнала | 600 мВскз | 1 В |
| Частота тест сигнала | 100 Гц | 10 кГц |
| Измеряемые параметры | Индуктивность (L), ёмкость (C), сопротивление (R, DCR), тангенс угла потерь (D), добротность (Q), фазовый сдвиг (θ) |
| Электрическая емкость (до) | 200 мкФ |
| Электрическая емкость (от) | 200 пФ |
| Электрическое сопротивление (до) | 200 МОм |
| Электрическое сопротивление (от) | 20 Ом |